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熒光磁粉探傷機對缺陷的顯示方法

發布日期:2019-05-24 00:00:00 作者:鹽城金格瑞無損檢測(ce)設(she)備有限(xian)公司 點擊:

鹽城金格瑞無損檢測設備有限公司主要產品有:熒光磁粉探傷機、磁粉探傷機、磁粉探傷儀、滲透檢測線、退磁機等。其中磁粉探傷機又包括:交流磁粉探傷機、交直流磁粉探傷機、專用磁粉探傷機等。產品廣泛應用于航天、航空、鐵道、機械、汽車、摩托車、內燃機、柴油機、軸承、彈簧、標準件、造船、鍋爐、壓力容器等行業的無損檢測領域。

常用(yong)于(yu)探(tan)傷的(de)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)有(you)x光(guang)探(tan)傷儀(yi)和同位素發出(chu)的(de)γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian),分別稱為x光(guang)探(tan)傷和γ射(she)(she)(she)線(xian)(xian)探(tan)傷。當這些射(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿過(guo)(照射(she)(she)(she))物(wu)質(zhi)(zhi)時,該(gai)物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)密(mi)度(du)越(yue)(yue)大,射(she)(she)(she)線(xian)(xian)強度(du)減(jian)弱得(de)越(yue)(yue)多,即(ji)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)能穿透過(guo)該(gai)物(wu)質(zhi)(zhi)的(de)強度(du)就越(yue)(yue)小。此(ci)時,若(ruo)(ruo)用(yong)照相(xiang)底片(pian)(pian)接收(shou)(shou)(shou),則底片(pian)(pian)的(de)感光(guang)量(liang)(liang)就小;若(ruo)(ruo)用(yong)儀(yi)器來接收(shou)(shou)(shou),獲得(de)的(de)信號(hao)就弱。因此(ci),用(yong)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)來照射(she)(she)(she)待探(tan)超聲波探(tan)傷儀(yi)傷的(de)零部件時,若(ruo)(ruo)其(qi)內部有(you)氣孔、夾渣等(deng)缺(que)陷(xian),射(she)(she)(she)線(xian)(xian)穿過(guo)有(you)缺(que)陷(xian)的(de)路(lu)徑比沒(mei)有(you)缺(que)陷(xian)的(de)路(lu)徑所透過(guo)的(de)物(wu)質(zhi)(zhi)密(mi)度(du)要小得(de)多,其(qi)強度(du)就減(jian)弱得(de)少些,即(ji)透過(guo)的(de)強度(du)就大些,若(ruo)(ruo)用(yong)底片(pian)(pian)接收(shou)(shou)(shou),則感光(guang)量(liang)(liang)就大些,就可以(yi)從底片(pian)(pian)上反映(ying)(ying)出(chu)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向的(de)平面投(tou)影;若(ruo)(ruo)用(yong)其(qi)它(ta)接收(shou)(shou)(shou)器也同樣可以(yi)用(yong)儀(yi)表來反映(ying)(ying)缺(que)陷(xian)垂直(zhi)于(yu)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)方(fang)向的(de)平面投(tou)影和射(she)(she)(she)線(xian)(xian)的(de)透過(guo)量(liang)(liang)。

磁粉探傷機.jpg

超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)頻率高,則(ze)傳(chuan)播的(de)(de)直線性(xing)強,又易于在固(gu)體中(zhong)傳(chuan)播,并且遇(yu)到兩(liang)種不同(tong)介質形(xing)成的(de)(de)界面時(shi)易于反(fan)射,這樣(yang)就(jiu)可以(yi)用(yong)它來探(tan)傷。通常用(yong)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)頭(tou)與(yu)待探(tan)工件表面良好(hao)的(de)(de)接(jie)觸(chu),探(tan)頭(tou)則(ze)可有效(xiao)地向(xiang)工件發射超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo),并能接(jie)收(缺陷)界面反(fan)射來的(de)(de)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo),同(tong)時(shi)轉換成電信號,再傳(chuan)輸給儀器進(jin)行處理(li)超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)探(tan)傷儀。根據超(chao)(chao)聲(sheng)波(bo)在介質中(zhong)傳(chuan)播的(de)(de)速(su)度(du)(常稱聲(sheng)速(su))和(he)傳(chuan)播的(de)(de)時(shi)間(jian),就(jiu)可知道缺陷的(de)(de)位置。

探(tan)傷儀中對缺陷的顯(xian)示(shi)(shi)方(fang)(fang)法有(you)(you)多種,有(you)(you)用(yong)磁(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的,也有(you)(you)不用(yong)磁(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的。用(yong)磁(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的稱為(wei)磁(ci)粉探(tan)傷,因它(ta)(ta)顯(xian)示(shi)(shi)直觀、操作簡單、人(ren)們樂于使(shi)用(yong),故它(ta)(ta)是最常用(yong)的方(fang)(fang)法之一。不用(yong)磁(ci)粉顯(xian)示(shi)(shi)的,習慣上稱為(wei)漏磁(ci)探(tan)傷,它(ta)(ta)常借助于感應線圈、磁(ci)敏管、霍爾元件(jian)等來反映缺陷,探(tan)傷儀它(ta)(ta)比磁(ci)粉探(tan)傷更衛生(sheng),但不如前者直觀。

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